SN74BCT8240ANT
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
部品番号
SN74BCT8240ANT
メーカー/ブランド
シリーズ
74BCT
部品のステータス
Obsolete
包装
Tube
動作温度
0°C ~ 70°C
取付タイプ
Through Hole
パッケージ・ケース
24-DIP (0.300", 7.62mm)
サプライヤーデバイスパッケージ
24-PDIP
供給電圧
4.5 V ~ 5.5 V
ビット数
8
ロジックタイプ
Scan Test Device with Inverting Buffers
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