集積回路 (IC) - ロジック - 特殊ロジック

部品番号
Texas Instruments
メーカー
rohs
IC REGSTR BUFF 28-56BIT 160NFBGA
説明
54719 PCS
在庫あり
部品番号
Texas Instruments
メーカー
rohs
IC REGSTR BUFFER 28-56BIT 176BGA
説明
32455 PCS
在庫あり
部品番号
Texas Instruments
メーカー
rohs
IC REGSTR BUFFER 28-56BIT 176BGA
説明
36307 PCS
在庫あり
部品番号
Texas Instruments
メーカー
rohs
IC REGSTR BUFFER 28-56BIT 176BGA
説明
31944 PCS
在庫あり
部品番号
Texas Instruments
メーカー
rohs
IC RGSTRD BUFF 24-48BIT 114BGA
説明
17200 PCS
在庫あり
部品番号
Texas Instruments
メーカー
rohs
IC RGSTRD BUFF 24-48BIT 114BGA
説明
19242 PCS
在庫あり
部品番号
Texas Instruments
メーカー
rohs
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
説明
15799 PCS
在庫あり
部品番号
Texas Instruments
メーカー
rohs
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
説明
16880 PCS
在庫あり
部品番号
Texas Instruments
メーカー
rohs
IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP
説明
54387 PCS
在庫あり
部品番号
Texas Instruments
メーカー
rohs
IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP
説明
36436 PCS
在庫あり
部品番号
Intersil
メーカー
rohs
IC COMP DRVR/WINDOW 18V 72-QFN
説明
14422 PCS
在庫あり
部品番号
Texas Instruments
メーカー
rohs
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
説明
40756 PCS
在庫あり
部品番号
Texas Instruments
メーカー
rohs
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
説明
25369 PCS
在庫あり
部品番号
Texas Instruments
メーカー
rohs
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
説明
16767 PCS
在庫あり
部品番号
Texas Instruments
メーカー
rohs
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
説明
45255 PCS
在庫あり
部品番号
Texas Instruments
メーカー
rohs
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
説明
30942 PCS
在庫あり
部品番号
Intersil
メーカー
rohs
IC COMP DRVR/WINDOW 18V 72QFN
説明
21895 PCS
在庫あり
部品番号
Intersil
メーカー
rohs
IC COMP DRVR/WINDOW 18V 72QFN
説明
42541 PCS
在庫あり
部品番号
Intersil
メーカー
rohs
IC COMP DRVR/WINDOW 18V 72QFN
説明
19770 PCS
在庫あり
部品番号
Texas Instruments
メーカー
rohs
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
説明
16832 PCS
在庫あり